HAST加速老化試驗箱多層電路板測試
HAST加速老化試驗箱多層電路板測試 HAST加速老化試驗箱多層電路板測試好處
HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化試驗箱是一種常用于電子產品可靠性測試的設備。它可以模擬高溫、高濕環(huán)境，對電子產品進行長時間的加速老化測試。在多層電路板測試中，HAST加速老化試驗箱可以幫助檢測電路板在高溫高濕環(huán)境下的可靠性。它可以模擬現實生活中可能遇到的惡劣環(huán)境條件，通過加速老化測試，評估電路板在長期使用中是否會出現性能下降、功能失效等問題。
在測試過程中，電路板會被放置在HAST加速老化試驗箱中，然后設定相應的溫度和濕度條件。在高溫高濕的環(huán)境下，電路板會經歷長時間的老化過程，通過監(jiān)測電路板的性能指標和功能，可以評估其可靠性和耐久性。
多層電路板測試是電子產品開發(fā)和制造過程中重要的一環(huán)，它可以幫助發(fā)現潛在的問題和缺陷，并提前進行改進和優(yōu)化。通過使用HAST加速老化試驗箱進行多層電路板測試，可以有效提高電子產品的可靠性和穩(wěn)定性，確保其在各種環(huán)境條件下的正常運行。 一、設備用途：
HAST加速老化試驗箱廣泛應用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產品的耐壓力和氣密性進行測試。
二、設備特點：
1) 采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，在很大程度上降低了使用故障率。
2) 獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。
3) 門鎖省力結構，解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
4) 試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現性.
5) 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉400小時.
6) 水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護.
7) tank耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.
8) 二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
9) 安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
10) 偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配）
11) USB導出歷史記錄數據，曲線.
三、主要技術參數：
設備型號： HE-HAST-40
圓形內箱尺寸： 直徑Φ400×深500（mm）
溫度范圍： +100℃～+132℃( 蒸氣溫度 )
溫度波動度： ±0.5℃
溫度顯示精度： 0.1℃
濕度范圍： 70~100% 蒸氣濕度
濕度控制穩(wěn)定度： ±3%RH
使用壓力： 1.2~2.89kg(含1atm)
壓力波動均勻度： ±0.1Kg
時間范圍： 0 Hr～999Hr
加壓時間： 0.00 Kg～1.04 Kg/cm2 約 45 分
控制器： PLC可程式彩色觸摸屏控制
內桶材質： SUS316#不銹鋼板
外箱材質： SECC冷鋼板高溫烤漆處理
使用電源： 單相 220V 20A 50/60Hz
安全保護： 超壓保護，超溫保護，缺水保護等
水質要求： 純水或蒸餾水（用戶自備）
HAST加速老化試驗箱在多層電路板測試中有以下好處：1. 高效加速老化：HAST試驗箱可以模擬高溫高濕環(huán)境，通過提高溫度和濕度，加速電路板的老化過程。相比于自然老化，HAST試驗可以在較短的時間內提供更快的老化速度，加快產品開發(fā)和測試周期。
2. 發(fā)現潛在問題：通過多層電路板測試，可以及早發(fā)現電路板中的潛在問題和缺陷。HAST試驗可以暴露出電路板在高溫高濕環(huán)境下可能出現的性能下降、功能失效、電氣故障等問題，從而提前采取措施進行改進和優(yōu)化。
3. 提高產品可靠性：通過經過HAST加速老化試驗的多層電路板進行測試，可以評估電路板在長期使用中的可靠性和耐久性。這樣可以確保產品在各種惡劣環(huán)境條件下仍然能夠正常運行，提高產品的可靠性和穩(wěn)定性。
4. 節(jié)省成本和時間：通過使用HAST試驗箱進行多層電路板測試，可以在短時間內獲得可靠的測試結果。這樣可以減少產品開發(fā)和測試周期，提高生產效率，同時也能夠減少因產品在實際使用中出現問題而導致的維修和返工成本。
總的來說，HAST加速老化試驗箱在多層電路板測試中可以提供高效的加速老化測試，幫助發(fā)現潛在問題，提高產品可靠性，同時也能夠節(jié)省成本和時間。
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